Kratkovalovna infrardeča svetloba (SWIR) predstavlja posebej zasnovano optično lečo, zasnovano za zajemanje kratkovalovne infrardeče svetlobe, ki je človeško oko ne zazna neposredno. Ta pas je običajno označen kot svetloba z valovnimi dolžinami od 0,9 do 1,7 mikronov. Načelo delovanja kratkovalovne infrardeče leče je odvisno od lastnosti prepustnosti materiala za določeno valovno dolžino svetlobe, s pomočjo specializiranih optičnih materialov in tehnologije prevleke pa lahko leča uspešno prevaja kratkovalovno infrardečo svetlobo, medtem ko zavira vidno svetlobo in druge nezaželene valovne dolžine.
Njegove glavne značilnosti vključujejo:
1. Visoka prepustnost in spektralna selektivnost:Leče SWIR uporabljajo posebne optične materiale in tehnologijo prevleke za doseganje visoke prepustnosti v kratkovalovnem infrardečem pasu (0,9 do 1,7 mikronov) in imajo spektralno selektivnost, kar olajša identifikacijo in prevodnost specifičnih valovnih dolžin infrardeče svetlobe ter zaviranje drugih valovnih dolžin svetlobe. .
2. Odpornost proti kemični koroziji in toplotna stabilnost:Material in prevleka leče izkazujeta izjemno kemično in toplotno stabilnost ter lahko vzdržujeta optično zmogljivost pri ekstremnih temperaturnih nihanjih in različnih okoljskih okoliščinah.
3. Visoka ločljivost in nizko popačenje:Leče SWIR kažejo visoko ločljivost, nizko popačenje in optične lastnosti hitrega odziva, ki izpolnjujejo zahteve za slikanje z visoko ločljivostjo.
Kratkovalovne infrardeče leče se v veliki meri uporabljajo na področju industrijskega nadzora. Na primer, v proizvodnem procesu polprevodnikov lahko leče SWIR zaznajo napake znotraj silicijevih rezin, ki jih je težko odkriti pod vidno svetlobo. Tehnologija kratkovalovnih infrardečih slik lahko poveča natančnost in učinkovitost pregledovanja rezin, s čimer se zmanjšajo proizvodni stroški in izboljša kakovost izdelkov.
Kratkovalovne infrardeče leče igrajo ključno vlogo pri pregledu polprevodniških rezin. Ker lahko kratkovalovna infrardeča svetloba prežema silicij, ta lastnost omogoča kratkovalovnim infrardečim lečam, da zaznajo napake v silicijevih rezinah. Na primer, rezina ima lahko razpoke zaradi preostale napetosti med proizvodnim procesom in te razpoke, če niso odkrite, bodo neposredno vplivale na izkoristek in stroške izdelave končnega dokončanega čipa IC. Z uporabo kratkovalovnih infrardečih leč je mogoče takšne napake učinkovito zaznati, s čimer se spodbuja učinkovitost proizvodnje in kakovost izdelkov.
V praktičnih aplikacijah lahko kratkovalovne infrardeče leče zagotovijo visokokontrastne slike, tako da postanejo vidno vidne tudi najmanjše napake. Uporaba te tehnologije zaznavanja ne le poveča natančnost zaznavanja, ampak tudi zmanjša stroške in čas ročnega zaznavanja. Glede na poročilo o tržni raziskavi povpraševanje po kratkovalovnih infrardečih lečah na trgu polprevodniških detektorjev narašča iz leta v leto in pričakuje se, da bo ohranilo stabilno pot rasti v naslednjih nekaj letih.
Čas objave: 18. nov. 2024